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        618福利來襲 | 牛津儀器AFM探針選型指南上線,手把手教您選擇探針

        發布日期:2022-06-06 14:47


        原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope, AFM) 是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。探針是AFM的核心部件,所以選擇合適的探針將決定著實驗結果的質量。


        一般情況下,合適的探針選擇主要考慮并取決于三個因素:樣品的種類、具體的應用、以及分析用的模式。比如太硬的探針,可能會造成樣品的損傷,但太軟的探針可能會導致力學模量數據不準確。更尖的探針雖然會帶來更高的分辨率,但是過尖的針尖可能破壞樣品表面,并且易磨損,這時推薦用鈍一點的針尖;但如果探針過于鈍而達不到必須的精度,則可能無法探到樣品的深槽或者無法掃出正確的表面形貌;而對于某些應用研究中,我們又需要用到耐磨的探針。因此,在實際應用中,是否選擇了合適的探針將直接影響成像的結果,也會對操作者的工作效率產生直接影響。


        為了解決各位用戶在各種復雜場景下選擇合適的探針產品的難題,牛津儀器在線商城聯合牛津儀器 Asylum Research 部門的應用科學家們推出了:AFM探針選擇指南,可以讓AFM實驗者以最簡便快速的方式根據樣品的種類,應用及模式來選擇最合適的探針。點擊閱讀原文,訪問牛津儀器在線商城(www.chattyleprechaun.com)AFM探針選型指南專題頁面,現在開始為您選擇最合適的探針。


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